Dal rilievo al BIM: al SAIE per approfondire gli aspetti scientifici, innovativi e di mercato

 

L'area al SAIE - nel pad.25 -  vuole mettere in evidenza la filiera necessaria alla realizzazione di prodotti tridimensionali in ambiente BIM partendo da dati rilevati di tipo geometrico e le relative informazioni associate.

Le moderne tecniche di rilievo permettono di acquisire dati ad elevatissima risoluzione e potenzialmente ad elevata accuratezza.

 

Nuvole di punti derivanti da tecniche laser scanner e fotogrammetriche sia terrestri che aeree da drone, integrate con dati derivanti da rilievi satellitari o di tipo classico, offrono una elevata potenzialità di descrizione geometrica e informativa di qualsiasi tipologia di oggetto (architettonico, infrastrutturale, meccanico, artistico, territoriale e quant'altro) che necessita successivamente di essere gestita e fruita in modo semplice.

Al professionista occorrono prodotti del rilievo che possano essere facilmente interpretabili e soprattutto da cui poter ricavare rappresentazioni di qualsiasi natura e genere che siano di semplice utilizzo e soprattutto compatibili con quello che viene richiesto dagli uffici appositi.

La possibilità di poter realizzare modelli geometrici tridimensionali con caratterizzazione tipologica di qualsiasi oggetto rilevato e poter associare a ciascun elemento singolo del modello informazioni ben specifiche di qualsiasi natura e genere, offre la possibilità di avere a disposizione un prodotto dalle elevate potenzialità.

 

Un programma di brevi interventi verranno proposti nell'ambito delle quattro giornate di SAIE per spiegare gli aspetti scientifici, le modalità di realizzazione e le innovazioni che il mercato oggigiorno propone.

 

Ing. Marco Dubbini (Università di Bologna, DiSCi - sez. di Geografia)

Ing. Simone Garagnani (Università di Bologna, Dip. di Architettura)

Arch. Pier Carlo Ricci (Artificio Digitale, Ravenna)